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介质损耗(介电常数)测试系统

简要描述:高频介质损耗(介电常数)测试系统依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的*佳解决方案。

  • 产品型号:HJS-I
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2020-12-30
  • 访  问  量: 311

详细介绍

介质损耗(介电常数)测试系统方案

高频介质损耗(介电常数)测试系统HJS-I型高频Q表、AS916测试装置(夹具)、数据采集和tanδ自动测量控件(装入HJS-I型高频Q表软件模块)、及HLKI-1型电感器组, 液体杯(可选,用于测试液态材料)组成。

高频介质损耗(介电常数)测试系统依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的z佳解决方案。

高频介质损耗(介电常数)测试系统配置方案及报价如下表:

主机

HJS-I高频Q表

测试装置

AS916

HLKI-1型电感器组

 

 

                                      

1         HJS-A+AS916+HLKI-1电感组特点:

测试频率范围

10KHz-70MHz, LCD显示,6位有效数 ,DDS数字合成

Q值测量范围

1~1000四位数显,±0.1Q分辨率

可调电容范围

28490pF 0.1pF分辨率

电容测量误差

±0.5%±0.5pF

Q表残余电感值

约20nH

S916测试装置

屏幕5位数显,极片为φ38和φ50二选一,支持液体杯测试, 液体杯测试极片为φ38

数据采集和tanδ自动测量控件

支持

技术参数

(1)Q值测量

   a.Q值测量范围:2~1023。

   b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

   c.标称误差

频率范围         10kHz~10MHz;

固有误差        ≤5%±满度值的2%;

工作误差        ≤7%±满度值的2%;

频率范围          10MHz~70MHz;

固有误差         ≤6%±满度值的2%;

工作误差        ≤8%±满度值的2%。

(2)电感测量范围:14.5nH~8.14H

(3)电容测量:1~ 460

项    目

 直接测量范围                     1~460pF

 主电容调节范围                 30~500pF

准 确 度              150pF以下±1pF;

150pF以上±1%

(4)信号源频率覆盖范围

项     目

频率范围                  10kHz~70MHz

频率分段(虚拟)          10~99.9999kHz

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

10~70MHz    

频率指示误差              3×10-5±1个字

(5)Q合格指示预置功能

   预置范围:5~1000。

(6)Q表正常工作条件

a.  环境温度:0℃~+40℃; 

b.相对湿度:<80%; 

c.电源:220V±22V, 50Hz±2.5Hz。

4、设备配置:

a.测试主机一台;

b.电感9只;

c.夹具一套 

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