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  • HJS-I介质损耗(介电常数)测试系统

    高频介质损耗(介电常数)测试系统依据国标GB/T1409-2006、GB/T1693-2007、美标ASTMD150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的*佳解决方案。

    时间:2020-12-30
    型号:HJS-I
    厂商性质:生产厂家
    浏览量:311
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